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FE-TEM透過型電子顕微鏡

JEM-2100F
分解能:0.1nm(格子像),0.25nm(粒子像)
加速電圧:100,120,160,200kV
倍率:50〜1200000倍
デジタルカメラGATAN UltraScan1000
最大傾斜:±30°
エネルギー分散型X線分析システムJED-2300 B〜Uまで可能

透過型電子顕微鏡の解析に便利なフリーソフトがこちらにあります。 CSManager(結晶構造のデータベースマネージャー)とリンクしたReciPro(単結晶電子線回折図形指数付けシミュレーション)をおすすめします。


利用は予約制になっています利用方法はこちら
TEM 2100F予約システムテスト中です、こちらから

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